Secondary ion mass spectrometry - SIMS II : proceedings of the second International conference on secondary ion mass spectrometry (SIMS II), Stanford university, Stanford, California, USA, August 27-31, 1979
- Författare
- A. Benninghoven International conference on secondary ion mass spectrometry 1979) Stanford :
- (Eds: A. Benninghoven ..)
- Genre
- Konferenser, Ej skönlitteratur, Konferenspublikation
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Springer-Vlg | 1979 | Tyskland, Berlin, New York | 295 sidor. diagr., ill., tab. |